晶體管動態特性測試系統STA1200-中國PLC網

晶體管動態特性測試系統STA1200

	價格：980000 元(人民幣)	產地：陜西
	最少起訂量：1套	發貨地：西安市
	上架時間：2024-03-15 17:57:55	瀏覽量：170
	陜西天士立科技有限公司
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晶體管動態特性測試系統STA1200

陜西天士立科技有限公司

專注半導體檢測·電學檢測·可靠性檢測·老化實驗

晶體管動態特性測試系統STA1200

基礎信息

高壓源：1200V（選配2000V）

高流源：100A（選配200A/300A/500A）

驅動電壓：±20V（選配±30V）

時間分辨率：1ns（選配400ps/200ps/100ps）

系統雜感：＜20nH

測試對象：Si（SiC/GaN）IGBT,Diode,MOSFET（選配BJT）

變溫測試：常溫~150℃/200℃

感性負載：程控電感（0.01~160mH，步進10uH）

阻性負載：程控電阻（1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω）備用三個

測試管型：可以測試N溝道和P溝道的IGBTs,MOSFETs

測試標準：IEC60747-9/IEC60747-2，GB/T29332/GB/T4023

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晶體管動態特性測試系統STA1200

試驗原理舉例

晶體管動態特性測試系統STA1200

技術特點

1. 專注寬禁帶功率器件動態參數評測，軟件程控，測試條件界面化輸入，系統閉環處理，自動調節一鍵測試

2. 采用光纖驅動信號通訊，響應速度快，抗干擾能力強

3. 自動加熱可由室溫~200℃，精度±0.1℃

4. 測試結果Excel，JPEG波形，波形任意縮放細節展寬分析

5. 測試主功率回路寄生電感Ls<10nH(實測)

6. 柵極驅動電阻Rg端口開放，按設定條件匹配電阻

7. DualARM控核，DSP數據采樣計算，極大減少控制時延誤差

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晶體管動態特性測試系統STA1200

試驗能力

標配：開通特性測試單元/Turn_ON

標配：關斷特性測試單元/Turn_OFF

標配：二極管反向恢復測試單元/Trr

標配：柵電荷測試單元/Qg¨

選配：容阻測

試單元/CR¨

選配：短路測試單元/SC¨

選配：雪崩測試單元/UIS¨

選配：安全工作區單元/SOA¨

選配：動態電阻單元/

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晶體管動態特性測試系統STA1200

參數指標

√ 標配（阻性/感性）開關測試單元 / Turn_ON/OFF

漏極電壓： 5V-1200V，分辨率 1V

漏極電流： 1A-100A，分辨率1A；

柵極驅動： ±20V （選配±30V），分辨率 0.1V

柵極電流： 2A/MAX

脈沖寬度： 1us-500us,步進 0.1us

時間精度： 1ns

感性負載： 0.01mH-160mH 程序控制，步進 10uH

阻性負載： 1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、50Ω , 程控，備用三個電阻

開關時間： ton/toff： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）

開關延遲： td(on)/td(off）： 0.1-10000ns@1ns （選配400/200/100ps）

上下時間/tr/tf： 1-10000ns分辨率1ns （選配400/200/100ps）

開關損耗/ Eon/Eoff： 1-2000mJ 最小分辨率 1uJ

√ 標配 柵極電荷單元 / Qg

驅動電流： 0-2mA，分辨率 0.01mA

2-20mA，分辨率 0.1mA

20mA-200mA，分辨率 1mA

柵極電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V

恒流源負載： 1-25A，分辨率0.1A

25-100A(選配200A/300A)@1A

漏極電壓： 5-100V，步進 0.1V

100-1200V，步進 1.0V

柵極電荷 Qg： 1nC-100?C

漏極電荷 Qgs： 1nC-100?C

源極電荷 Qgd： 1nC-100?C

平臺電壓 Vgp： 0~30V，分辨率 0.1V

√ 標配 二極管反向恢復測試單元 / Qrr_FRD

正向電流： 1A-25A，分辨率 0.1A

25A-100A （選配200A/300A）分辨率 1A

反向電壓： 5v-100V，步進 0.1V

100V-1200V，步進 1.0v

反向恢復時間 Trr： 1-10000ns，最小分辨率1ns （選配400/200/100ps）

反向恢復電荷 Qrr： 1nC-100?C，最小分辨率 1nC；

反向恢復電流 Irm： 1A-100A （選配200A/300A）；

反向恢復損耗 Erec： 1-2000mJ，最小分辨率 1uJ；

電流下降率 dif/dt： 50-1kA/us；

電壓變化率 dv/dt： 50-1kV/us。

¨ 選配 短路特性測試單元/ SC

電流： 1000A/MAX

脈寬： 1us~100us

柵驅電壓： ±20V （選配±30V） @0.1V

漏極電壓： 5V~100V， 0.1V 分辨率

100V~1200V， 1.0V 分辨率

¨ 選配 雪崩測試單元 / UIS

雪崩耐量/EAS： 100J

雪崩擊穿電壓/2500V

雪崩電流/IAS： 1.0-400A 分辨率 1.0A

感性負載/0.01-160mH@10μH，程控可調

¨ 選配 容阻測試單元 / CR

掃頻范圍： 0.1MHz～5MHz

漏源極電壓： 1200V，分辨率 1V

¨ 選配 動態電阻Ron,dy

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