QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實驗-中國PLC網

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QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實驗

	價格：140.00 元(人民幣)	產地：廣東深圳
	最少起訂量：1	發貨地：廣東深圳
	上架時間：2024-02-05 19:06:28	瀏覽量：130
	深圳市鴻怡電子有限公司
	經營模式：生產加工	公司類型：私營有限責任公司
	所屬行業：治具	主要客戶：
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聯系人:William (先生)	手機:13622364332
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郵箱:huang@hydz999.com	地址:

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產品參數
型號	QFN40-0.4（5*5）翻蓋老化座
設備類型	Adapter
類型	DIP
電流額定值	1A
觸點電鍍	Gold
觸點材料	BerylliumCopper
位置/插座	QFN40
功能	老化測試
絕緣材料	PEI
最大工作溫度	155
最小工作溫度	-55
單位重量	0.005
包裝	盒裝
最小包裝量	1
封裝/規格	插件
間距	0.4
總針腳數	40 1
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
認證機構	CE
數量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準
品牌	ANDK

QFN40-0.4-5*5翻蓋老化座
1.引腳：40 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.4mm
3.尺寸：5*5mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-55~155℃
8.Current Rating：1A Max.

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