二手日本Nidek晶片平坦度\/翹曲度測量儀FT-17包安裝調試培訓服務-中國PLC網

二手日本Nidek晶片平坦度\/翹曲度測量儀FT-17包安裝調試培訓服務

$二手日本Nidek晶片平坦度\/翹曲度測量儀FT-17包安裝調試培訓服務$	價格：1.25 元(人民幣)	產地：天津天津
	最少起訂量：1	發貨地：天津天津
	上架時間：2023-12-03 03:48:04	瀏覽量：75
	東莞市宏誠光學制品有限公司
	經營模式：生產加工	公司類型：私營獨資企業
	所屬行業：儀器儀表配附件	主要客戶：華為大族富士康
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產品參數

二手日本 Nidek 晶片平坦度/翹曲度測量儀FT-17

Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體（如藍寶石晶片等）和LED外延晶片、芯片的檢測。

其應用不僅局限于對藍寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測，而且更多地應用于對外延之后，外延層表面品質、TTV等的檢測和評估。

在電腦顯示屏上，它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖，以幫助人們清楚細微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。

此外，它也適用于液晶電視屏幕面板所需要的大而平的圖形掩膜的檢測。

詳情楊經理 18103045976

?	FT-17 Series			FT-900 Series
	無解析無顯示	帶解析	帶解析（V2規格）	無解析無顯示	帶解析	帶解析（V2規格）
測定方法	光波干涉方式（斜入射）
光源	半導體激光（655nm、3mW）			He-Ne激光（632.3A、5mW）
樣本尺寸	直徑130mm以下（平坦度測定100mm以下）			直徑200mm以下
樣本厚度	2000um以下（根據測量承載臺不同，最大可達10mm），其他厚度需客戶另行協商
樣本種類	Wafer（Si、化合物、酸化物、玻璃）、金屬片、硬盤（鋁、玻璃）等鏡面和非鏡面（反射率低的非鏡面不可測試）
樣本傾斜角度	垂直方向傾斜8度			垂直或垂直方向傾斜8度
干涉計設定敏感度	1、2、3、4、5u/紋理（下底面基準時只有1、2um/紋理，且厚度1mm以上時1um/紋理）
測定范圍	紋理敏感度30倍（根據紋理狀況以及測試鏡頭倍率關系，有時不能達到30倍）
攝影鏡頭倍率	3倍以上
顯示分解能	?	0.01um		?	0.01um
重復精度 Repeatability:1б	?	0.02S＋0.02M（um）條件：樣本設定后連續測試 S：紋理敏感度 M：測定值		?	0.02S＋0.02M（um）條件：樣本設定后連續測試 S：紋理敏感度 M：測定值
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Nidek高精密平面度檢測儀, 適用于透明晶體物體（如藍寶石晶片等）和LED外延晶片、芯片的檢測。

其應用不僅局限于對藍寶石襯底單面/雙面的表面平坦檢測，而且更多地應用于對外延之后，外延層表面品質、TTV等的檢測和評估。

在電腦顯示屏上，它可自動生成三維立體的表面彩色效果圖，以幫助人們清楚細微地、直觀地了解和掌握對象物表面層生長的情況。

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該產品目前已在國內大手廠商中廣泛采用，特別是在外延片的品質檢測方面。頗受好評。

據不完全統計，至2012年底該產品已被國內LED襯底和外延片80多家廠家所使用。

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測試項目

吸附：GFLR、GF3D、GF3R、TV、GBIR、TAPER、TAng、SFLR、SFLD、SFQR、SF3R、SF3D、SBIR、SBID

非吸附：BOW、SORI、整體應力、局部應力

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可測試晶片種類

切割片、研磨片、拋光片、外延片、磊晶片

可選配光刻區域模擬軟件、應力分析軟件等