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FISCHER 膜厚儀

特點

根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm

鎢X射線管或鎢微聚焦管（XULM）作為X射線源

采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器

準直器：固定或4個自動切換

初級過濾器：固定或3個自動切換

固定樣品臺或手動XY載物臺

用于光學觀察測量點的攝像頭

應用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

>電子行業連接器和觸點上的鍍層